Pencarian berdasarkan :
Pencarian terakhir:
C:\laragon\www\perpustakaan\lib\SearchEngine\DefaultEngine.php:610 "Search Engine Debug 🔎 🪲"
Engine Type ⚙️: "SLiMS\SearchEngine\DefaultEngine"
SQL ⚙️: array:2 [ "count" => "select count(distinct b.biblio_id) from biblio as b left join mst_publisher as mp on b.publisher_id=mp.publisher_id left join mst_place as mpl on b.publish_place_id=mpl.place_id where b.opac_hide=0 and (b.biblio_id in(select bt.biblio_id from biblio_topic as bt left join mst_topic as mt on bt.topic_id=mt.topic_id where mt.topic like ?))" "query" => "select b.biblio_id, b.title, b.image, b.isbn_issn, b.publish_year, mp.publisher_name as `publisher`, mpl.place_name as `publish_place`, b.labels, b.input_date, b.edition, b.collation, b.series_title, b.call_number from biblio as b left join mst_publisher as mp on b.publisher_id=mp.publisher_id left join mst_place as mpl on b.publish_place_id=mpl.place_id where b.opac_hide=0 and (b.biblio_id in(select bt.biblio_id from biblio_topic as bt left join mst_topic as mt on bt.topic_id=mt.topic_id where mt.topic like ?)) order by b.last_update desc limit 10 offset 160" ]
Bind Value ⚒️: array:1 [ 0 => "%MODUL%" ]
Modul ini akan membahas mengenai umum dan dasar yang diperlukan dalam mempelajari dan memahami aspek hukum tentang suatu merek sebagai pengantar dalam memahami merek.
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Merek Tingkat Pertama : KONVENSI INTERNASIONAL TENTANG MEREK
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Merek Tingkat Pertama : JANGKA WAKTU PERLINDUNGAN DAN PERPANJANGAN MEREK TERDAFTAR
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Merek Tingkat Pertama : SISTEM DAN LINGKUP PERMOHONAN MEREK
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Pengantar Hukum Paten
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Pemeriksaan Substansif Paten
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Pemeriksaan Substansif Paten II
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Konvensi Internasional Di Bidang Paten
Modul Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Litigasi Paten
Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksaan Paten Tingkat Pertama Pemeriksaan Substansif Paten Untuk Klasifikasi dan Penelusuran