Text

Pemeriksaan Substansif Paten II : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama

---

Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama Pemeriksaan Substansif Paten II

---

Ketersediaan

Informasi Detail

Judul Seri

-

No. Panggil

346.04 SYA p

Penerbit

Jakarta : Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia., 2013

Deskripsi Fisik

28 hlm, 21 cm

Bahasa

Indonesia

ISBN/ISSN

978-602-9035-18-1

Klasifikasi

346.04

Tipe Isi

text

Tipe Media

-

Tipe Pembawa

-

Edisi

Cetakan II

Subjek

MODUL
Paten
Jabatan Fungsional
Kekayaan Intelektual

Info Detail Spesifik

-

Pernyataan Tanggungjawab

-

Versi lain/terkait

Lampiran Berkas

Komentar

---

Anda harus masuk sebelum memberikan komentar