Image of Pemeriksaan Substantif Paten Untuk Klasifikasi dan Penelusuran : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksaan Panten Tingkat Pertama
Penanda Bagikan

Text

Pemeriksaan Substantif Paten Untuk Klasifikasi dan Penelusuran : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksaan Panten Tingkat Pertama

Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksaan Paten Tingkat Pertama Pemeriksaan Substansif Paten Untuk Klasifikasi dan Penelusuran

Ketersediaan
#
Belum memasukkan lokasi 346.04 WID p
B001889
Tersedia
Informasi Detail
Judul Seri
-
No. Panggil
346.04 WID p
Penerbit
Jakarta : Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia.,
Deskripsi Fisik
52 hlm ,; 15 x 21 cm
Bahasa
Indonesia
ISBN/ISSN
978-602-9035-14-1
Klasifikasi
346.04
Tipe Isi
-
Tipe Media
-
Tipe Pembawa
-
Edisi
-
Subjek
MODUL
Paten
Jabatan Fungsional
Kekayaan Intelektual
Info Detail Spesifik
-
Pernyataan Tanggungjawab
Versi lain/terkait

Tidak tersedia versi lain

Lampiran Berkas
Tidak Ada Data
Komentar
Anda harus masuk sebelum memberikan komentar