Gaya APA

M.Si., I, S. (2013). Pemeriksaan Substansif Paten II : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama (Cetakan II). Jakarta: Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia.

Gaya MLA

M.Si., Ir., Syafruddin,. "Pemeriksaan Substansif Paten II : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama". Cetakan II Jakarta: Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia, 2013. Text.