Gaya APA
Erlina, I, S. (2013).
Pemeriksaan Substansif Paten : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama .
Jakarta:
Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia.
Gaya MLA
Erlina, Ir., Susilawati.
"Pemeriksaan Substansif Paten : Diklat Jabatan Fungsional Pemeriksa Paten Tingkat Pertama".
Jakarta:
Badan Pengembangan Sumber Daya Manusia Hukum dan HAM Kementerian Hukum dan HAM Republik Indonesia,
2013.
Text.